Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1270639137 |
| Veranstaltung | IEEE VLSI Test Symposium (40. : 2022 : Online) |
| Andere Namen |
VLSI Test Symposium (40. : 2022 : Online) VTS (40. : 2022 : Online) |
| Quelle | Homepage (Stand: 24.10.2022): http://www.tttc-vts.org/public_html/new/2022/ |
| Zeit | 25.04.2022-27.04.2022 |
| Land | Sonstiges Ausland, Unbekanntes Land (ZZ) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: San Diego, Calif. (geplanter Veranstaltungsort) |
| Weitere Angaben | Die als Präsenzveranstaltung geplante Konferenz wurde online abgehalten. |
| Beziehungen zu Organisationen | Veranstalter: Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

