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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel On the test complexity of VLSI systems / Hongzhong Wu
Person(en) Wu, Hongzhong (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: [2007]
Umfang/Format Online-Ressource, ca. 0,8 MB
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: On the test complexity of VLSI systems
Hochschulschrift Saarbrücken, Univ., Diss., 1994
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:291-scidok-11971
URL http://scidok.sulb.uni-saarland.de/volltexte/2007/1197/pdf/Dissertation_6242_Wu_Hong_1994.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
http://scidok.sulb.uni-saarland.de/volltexte/2007/1197/ (Verlag)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter VLSI ; Schaltnetz ; Baum <Mathematik> ; Testbarkeit ; Komplexität
DDC-Notation 621.381537 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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