Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "XXX"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1252475640 |
| Veranstaltung | Conference on Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography (30. : 2016 : San Jose, Calif.) |
| Andere Namen |
Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography (Veranstaltung (30. : 2016 : San Jose, Calif.) Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXX |
| Quelle | Homepage (Stand: 22.02.2022): https://spie.org/conferences-and-exhibitions/past-conferences-and-exhibitions/advanced-lithography-2016?SSO=1 |
| Zeit | 22.02.2016-25.02.2016 |
| Land | USA (XD-US) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: San Jose, Calif. |
| Beziehungen zu Organisationen | Sponsor: SPIE |
| Typ | Veranstaltung (vie) |
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