Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "135700167"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1277372209 |
| Titel | Plasma Diagnostics Using K‐Line Emission Profiles of Silicon |
| Person(en) |
Chen, Y. (Verfasser) Sengebusch, A. (Verfasser) Reinholz, H. (Verfasser) Röpke, Gerd (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023010607122194429216 DOI: 10.1002/ctpp.201400010 |
| URL | https://doi.org/10.1002/ctpp.201400010 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 10.10.2014 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Contributions to plasma physics (Bd. 54, 2014, Nr. 9: 772-782. 11 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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