Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Gerhard"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/135557546X |
| Titel | Very High Temperature Hall Sensors in a Wafer‐Scale 4H‐SiC Technology / Hesham Okeil, Tobias Erlbacher, Gerhard Wachutka |
| Person(en) |
Okeil, Hesham (Verfasser) Erlbacher, Tobias (Verfasser) Wachutka, Gerhard (Verfasser) |
| Verlag | Erlangen : Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2502070518545.535577600971 DOI: 10.1002/admt.202400046 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen |
In: Advanced Materials Technologies 10.1 (2024). DOI:10.1002/admt.202400046 In: Advanced Materials Technologies 10 : 1 |
| DDC-Notation | 537.6226 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

