Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Titel Defektorientierter Test für integrierte analoge Schaltungen : Bestimmung der Fehlermenge für Teilschaltungen in MOS-Technik unter Berücksichtigung von Entwurfssegeln / von Erdem Kaltalioglu
Person(en) Kaltalioglu, Erdem (Verfasser)
Ausgabe [Mikrofiche-Ausg.]
Verlag Marburg : Tectum-Verl.
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1996
Umfang/Format 1 Mikrofiche : graph. Darst.
ISBN/Einband/Preis 978-3-89608-949-6 : DM 48.00 (freier Pr.), S 350.00 (freier Pr.), sfr 48.00 (freier Pr.)
3-89608-949-8 : DM 48.00 (freier Pr.), S 350.00 (freier Pr.), sfr 48.00 (freier Pr.)
Beziehungen Edition Wissenschaft / Reihe Elektrotechnik ; Bd. 9
Anmerkungen Manuskript: 92 S.
Schlagwörter Analoge integrierte Schaltung ; MOS ; Layout <Mikroelektronik> ; Fehleranalyse
Sachgruppe(n) 37 Elektrotechnik

Frankfurt Signatur: 1996 MF 50
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 1996 MF 50
Bereitstellung in Leipzig




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