Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1280330619 |
Titel | Electron tomography and microscopy on semiconductor heterostructures |
Person(en) | Niehle, Michael (Verfasser) |
Verlag | Berlin : Humboldt-Universität zu Berlin |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2016 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Persistent Identifier | DOI: 10.34657/1482 |
URL | https://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/4095 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Anmerkungen | Datenlieferant: Renate - Repositorium für Naturwissenschaften und Technik (TIB Hannover) |
Sachgruppe(n) | 801 ; 530 Physik |
