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Bücher
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Titel Entwurf, Test und Zuverlässigkeit von Ein-Chip-TMR-Systemen
Person(en) Prüske, Erhard (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1993
Umfang/Format 3 Mikrofiches : 24x
Hochschulschrift Berlin, Techn. Univ., Diss., 1992
Anmerkungen Mikroreprod. eines Ms. Getr. Zählung : graph. Darst.
Schlagwörter CMOS-Schaltung ; Übertragungskanal ; Fehlertoleranz ; Zuverlässigkeit
Sachgruppe(n) 37 Elektrotechnik

Frankfurt Signatur: H 1993 MF 236
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: H 1993 MF 236
Bereitstellung in Leipzig




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