Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/931801281 |
| Titel | Entwurf, Test und Zuverlässigkeit von Ein-Chip-TMR-Systemen |
| Person(en) | Prüske, Erhard (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1993 |
| Umfang/Format | 3 Mikrofiches : 24x |
| Hochschulschrift | Berlin, Techn. Univ., Diss., 1992 |
| Anmerkungen | Mikroreprod. eines Ms. Getr. Zählung : graph. Darst. |
| Schlagwörter | CMOS-Schaltung ; Übertragungskanal ; Fehlertoleranz ; Zuverlässigkeit |
| Sachgruppe(n) | 37 Elektrotechnik |
| Frankfurt |
Signatur: H 1993 MF 236
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: H 1993 MF 236
Bereitstellung in Leipzig |
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