Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: swiRef=041760743
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1014519292 |
| Titel | Digitale SAP-Massendatenanalyse : Risiken erkennen - Prozesse optimieren / von Arno Bönner, Martin Riedl und Stefan Wenig |
| Person(en) |
Bönner, Arno (Verfasser) Riedl, Martin (Verfasser) Wenig, Stefan (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Erich Schmidt |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2011 |
| Umfang/Format | 265 S. : graph. Darst. ; 24 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Digitale SAP®-Massendatenanalyse |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-503-11652-2 kart. : EUR 39.95 (DE), EUR 40.30 (AT), sfr 52.00 (freier Pr.) 3-503-11652-4 |
| EAN | 9783503116522 |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Anmerkungen | Literaturangaben |
| Schlagwörter | SAP R/3 ; Betriebsdaten ; Big Data ; Datenauswertung ; Prozessoptimierung ; Risikomanagement |
| DDC-Notation | 658.4038028553 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 650 Management |
| Weiterführende Informationen |
Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
| Frankfurt |
Signatur: 2011 A 72777 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2011 A 97278 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |

