Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors / vorgelegt von Stephan Böttcher. [DESY]
Person(en) Böttcher, Stephan (Verfasser)
Verlag Hamburg : DESY
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1996
Umfang/Format 130 Sp. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm
Hochschulschrift Zugl.: Hamburg, Univ., Diss., 1996
ISBN/Einband/Preis kart.
Identifikationsnummern Reportnummer: DESY F35D 96 12
Sprache(n) Englisch (eng)
Sachgruppe(n) 29 Physik, Astronomie ; 37 Elektrotechnik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 1996 B 18762
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 1996 B 18762
Bereitstellung in Leipzig




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