Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations.
 
Neuigkeiten Vom 10. September 2025, 13 Uhr, bis 11. September 2025, 22 Uhr, kann es zu Einschränkungen bei der Bereitstellung von Medienwerken kommen. Wir informieren Sie per E-Mail über den aktuellen Stand Ihrer Bestellungen. // From 13:00 on 10 September 2025 until 22:00 on 11 September 2025, there may be restrictions on the provision of media works. We will inform you by email about the current status of your orders.
 
 

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Contact related Failure Detection of Semiconductor Layer Stacks using an Acoustic Emission Test Method / Marianne Unterreitmeier ; Gutachter: Robert Weigel, Lothar Pfitzner, Rainer Holmer ; Betreuer: Robert Weigel
Person(en) Unterreitmeier, Marianne (Verfasser)
Weigel, Robert (Akademischer Betreuer)
Weigel, Robert (Gutachter)
Pfitzner, Lothar (Gutachter)
Holmer, Rainer (Gutachter)
Verlag Erlangen : FAU University Press
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2020
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Hochschulschrift Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2019
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-144784
DOI: 10.25593/978-3-96147-306-9
URL https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/14478 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen FAU Forschungen, Reihe B, Medizin, Naturwissenschaft, Technik ; 33
Schlagwörter Wafer ; Halbleiterschicht ; Schallemissionsanalyse ; Rissbildung ; Härteeindruck ; Werkstoffschädigung ; Halbleitertechnologie ; Kontaktieren
DDC-Notation 621.381520287 [DDC23ger]; 620.1127 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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