Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/940926636 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Quantitative Untersuchung von Defekten auf Oberflächen von III-V-Verbindungshalbleitern mit dem Rastertunnelmikroskop / Philipp Ebert. [Forschungszentrum Jülich GmbH, KFA, Institut für Festkörperforschung] |
| Person(en) | Ebert, Philipp (Verfasser) |
| Verlag | Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1993 |
| Umfang/Format | IV, 149 S. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss. |
| ISBN/Einband/Preis | kart. |
| Identifikationsnummern | Reportnummer: Jül 2785 |
| Anmerkungen | Status nach VGG: vergriffen |
| Sachgruppe(n) | 29 Physik, Astronomie |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 1993 B 22067
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 1993 B 22067
Bereitstellung in Leipzig |
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