Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1246028018 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | New approaches to reliability qualification of semiconductor components under varying and progressive stresses / Alexander Hirler |
| Person(en) | Hirler, Alexander (Verfasser) |
| Organisation(en) | Eric Cuvillier (Firma) (Verlag) |
| Ausgabe | 1. Auflage |
| Verlag | Göttingen : Cuvillier Verlag |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2021 |
| Umfang/Format | vi, 152 Seiten : Illustrationen ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Dissertation, Universität der Bundeswehr München, 2021 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-7369-7520-0 Broschur : EUR 48.90 (DE), EUR 50.30 (AT) 3-7369-7520-1 |
| EAN | 9783736975200 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Kraftfahrzeugbau ; Fahrerassistenzsystem ; Autonomes Fahrzeug ; Halbleiterbauelement ; Mechanische Spannung ; Lebensdauer |
| DDC-Notation | 629.272 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2022 AA 54360
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2022 AA 10436
Bereitstellung in Leipzig |
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