Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1207243124 |
| Titel | Transient numerical study of temperature gradients during sublimationgrowth of SiC / Jürgen Geiser, Olaf Klein, Peter Philip |
| Person(en) |
Geiser, Jürgen (Verfasser) Klein, Olaf (Verfasser) Philip, Peter (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Humboldt-Universität zu Berlin |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2006 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Geiser, Jürgen: Transient numerical study of temperature gradients during sublimation growth of SiC |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:kobv:11-10099109 DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2006.08.046 |
| URL | http://edoc.hu-berlin.de/18452/10102 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Journal of Crystal Growth, Band 297, Ausgabe 1, Seite 20-32, 2006 |
| DDC-Notation | 537.6226 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik ; 510 Mathematik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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