Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "132989387"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1265155593 |
| Titel | A Deep Study of Resistance Switching Phenomena in TaO x ReRAM Cells: System‐Theoretic Dynamic Route Map Analysis and Experimental Verification |
| Person(en) |
Ascoli, Alon (Verfasser) Menzel, Stephan (Verfasser) Rana, Vikas (Verfasser) Kempen, Tim (Verfasser) Messaris, Ioannis (Verfasser) Demirkol, Ahmet Samil (Verfasser) Schulten, Michael (Verfasser) Siemon, Anne (Verfasser) Tetzlaff, Ronald (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022081115274929079828 DOI: 10.1002/aelm.202200182 |
| URL | https://doi.org/10.1002/aelm.202200182 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 11.08.2022 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Advanced electronic materials (11.08.2022. 31 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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