Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Titel Semiconductor Bandgap Measurements: Overview of Optical, Electrical, and Device‐Level Techniques
Person(en) Sahare, Sanjay (Verfasser)
Solovan, Mykhailo M. (Verfasser)
Mostovyi, Andrii I. (Verfasser)
Parkhomenko, Hryhorii P. (Verfasser)
Schopp, Nora (Verfasser)
Ziółek, Marcin (Verfasser)
Brus, Viktor V. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2508281420334.855411603106
DOI: 10.1002/adom.202501747
URL https://doi.org/10.1002/adom.202501747
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 28.08.2025
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Advanced optical materials (28.08.2025. 19 S.)

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