Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1187949019 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films / Stephan van Duren ; Gutachter: Aleksander Gurlo, Walter Reimers, Thomas Unold ; Betreuer: Aleksander Gurlo |
| Person(en) |
Duren, Stephan van (Verfasser) Gurlo, Aleksander (Akademischer Betreuer) Gurlo, Aleksander (Gutachter) Reimers, Walter (Gutachter) Unold, Thomas (Gutachter) |
| Organisation(en) | Technische Universität Berlin. Universitätsbibliothek (Verlag) |
| Verlag | Berlin : Universitätsverlag der TU Berlin |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2019 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) |
Erscheint auch als: ISBN: 978-3-7983-3065-8 Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Duren, Stephan van: Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films |
| Hochschulschrift | Dissertation, Berlin, Technische Universität Berlin, 2018 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2019060607450939452587 DOI: 10.14279/depositonce-7732 Handle: 11303/8598 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Advanced Ceramic Materials ; 2 |
| Schlagwörter | Kesterit ; Halbleiterschicht ; Schichtwachstum ; Reflektometrie ; Raman-Spektroskopie ; Röntgendiffraktometrie |
| DDC-Notation | 537.6226 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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