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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1349237078
Titel YOLOv4-Based Semiconductor Wafer Notch Detection Using Deep Learning and Image Enhancement Algorithms / by Hao Wang, Hyo Jun Sim, Jong Jin Hwang, Sung Jin Kwak, Seung Jae Moon
Person(en) Wang, Hao (Verfasser)
Sim, Hyo Jun (Verfasser)
Hwang, Jong Jin (Verfasser)
Kwak, Sung Jin (Verfasser)
Moon, Seung Jae (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2411250841326.426861713843
DOI: 10.1007/s12541-024-01092-7
URL https://doi.org/10.1007/s12541-024-01092-7
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 006.37 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: International journal of precision engineering and manufacturing (Bd. 25, 16.8.2024, Nr. 9, date:9.2024: 1909-1916)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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