Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1254165223 |
| Titel | Processing and analysis of long-range scans with an atomic force microscope (AFM) in combination with nanopositioning and nanomeasuring technology for defect detection and quality control / Ingo Ortlepp, Jaqueline Stauffenberg, Eberhard Manske |
| Person(en) |
Ortlepp, Ingo (Verfasser) Stauffenberg, Jaqueline (Verfasser) Manske, Eberhard (Verfasser) |
| Verlag | Ilmenau : TU Ilmenau |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2021 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022032803081177413621 DOI: 10.3390/s21175862 |
| URL | https://www.db-thueringen.de/receive/dbt_mods_00051608 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Sensors(21), H. 17 |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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