Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Treffer 99192 von 1010055
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1269737783 |
| Titel | Low‐Voltage and High Thermal Stability Single‐Element Te Selector with Failed Bit Pruning Operation Enabling Robust Cross‐Point Memory |
| Person(en) |
Ding, Yaxin (Verfasser) An, Junjie (Verfasser) Shen, Jiabin (Verfasser) Jia, Shujing (Verfasser) Guo, Jingrui (Verfasser) Wang, Lingfei (Verfasser) Gong, Tiancheng (Verfasser) Jiang, Pengfei (Verfasser) Wang, Yuan (Verfasser) Chen, Yuting (Verfasser) Zhu, Min (Verfasser) Dou, Chunmeng (Verfasser) Luo, Qing (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022100715204235182018 DOI: 10.1002/aelm.202200870 |
| URL | https://doi.org/10.1002/aelm.202200870 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 06.10.2022 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Advanced electronic materials (06.10.2022. 7 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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