Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: cod="rh"
Treffer 99571 von 349158
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1217843515 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Sensoren zur Bestimmung der Alterung der On-Chip-Metallisierung von LDMOS-Transistoren unter zyklischer Last / Matthias Martin Ritter ; Gutachter: Jörg Schulze ; Betreuer: Martin Pfost |
| Person(en) |
Ritter, Matthias Martin (Verfasser) Pfost, Martin (Akademischer Betreuer) Schulze, Jörg (Gutachter) |
| Verlag | Dortmund : Universitätsbibliothek Dortmund |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2020 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Dissertation, Dortmund, Technische Universität, 2020 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2020091803425505598415 Handle: 2003/39281 |
| URL | http://hdl.handle.net/2003/39281 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter | Integrierter Schaltkreis |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 99571 von 349158
Administration
