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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1279492384
Titel Logic‐in‐Memory Operation of Ternary NAND/NOR Universal Logic Gates using Double‐Gated Feedback Field‐Effect Transistors
Person(en) Son, Jaemin (Verfasser)
Shin, Yunwoo (Verfasser)
Cho, Kyoungah (Verfasser)
Kim, Sangsig (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2023012914031974815418
DOI: 10.1002/aelm.202201134
URL https://doi.org/10.1002/aelm.202201134
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 29.01.2023
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Advanced electronic materials (29.01.2023. 9 S.)

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