Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1081885378 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Charakterisierung von Metall-Oxid-Halbleiter-Strukturen auf der Silicium- und Kohlenstoffseite von 4H-Siliciumcarbid / Michael Grieb |
| Person(en) | Grieb, Michael (Verfasser) |
| Ausgabe | 1. Auflage |
| Verlag | Aachen : Shaker |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Umfang/Format | Online-Ressource : 81 Illustrationen (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Grieb, Michael: Charakterisierung von Metall-Oxid-Halbleiter-Strukturen auf der Silicium- und Kohlenstoffseite von 4H-Siliciumcarbid |
| Hochschulschrift | Dissertation, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2010 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-201601312092 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-8322-9411-3 |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | Erlanger Berichte Mikroelektronik ; 2010,1 |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | MOS ; Siliciumcarbid ; Oxidation ; Gate-Oxid ; PECVD-Verfahren ; Elektrische Eigenschaft ; Verlustleistung ; DMOS-FET |
| DDC-Notation | 621.3815284 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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