Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1225555701 |
| Titel | Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis / Francesca Bennet, Anja Müller, Jörg Radnik, Y. Hachenberger, H. Jungnickel, P. Laue, A. Luch, J. Tentschert |
| Person(en) |
Bennet, Francesca (Verfasser) Müller, Anja (Verfasser) Radnik, Jörg (Verfasser) Hachenberger, Y. (Verfasser) Jungnickel, H. (Verfasser) Laue, P. (Verfasser) Luch, A. (Verfasser) Tentschert, J. (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2021 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:kobv:b43-520103 DOI: 10.3791/61758 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Jove-Journal of Visualized Experiments, 163, S. e61758- |
| DDC-Notation | 620.5 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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