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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1185378197 |
| Titel | Physics-Based Low-Cost Test Technique for High Voltage LDMOS / by Sukeshwar Kannan, Kaushal Kannan, Bruce C. Kim, Friedrich Taenzler, Richard Antley, Ken Moushegian, Kenneth M. Butler, Doug Mirizzi |
| Person(en) |
Kannan, Sukeshwar (Verfasser) Kannan, Kaushal (Verfasser) Kim, Bruce C. (Verfasser) Taenzler, Friedrich (Verfasser) Antley, Richard (Verfasser) Moushegian, Ken (Verfasser) Butler, Kenneth M. (Verfasser) Mirizzi, Doug (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2019050520110742390768 DOI: 10.1007/s10836-013-5417-5 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10836-013-5417-5 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2013 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 29, 15.11.2013, Nr. 6, date:12.2013: 745-762) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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