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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1330519574 |
| Titel | Post-Processing of Random Number Generator in InGaAs Contact Photodiode Homodyne Circuit Based on Continuous Wavelet Transform to Improve NIST Longest Run Test Pass Rate / by D. A. Mavkov, M. E. Sibgatullin, L. R. Gilyazov, N. M. Arslanov |
| Person(en) |
Mavkov, D. A. (Verfasser) Sibgatullin, M. E. (Verfasser) Gilyazov, L. R. (Verfasser) Arslanov, N. M. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405232126562.754239947368 DOI: 10.1134/S106373972360070X |
| URL | https://doi.org/10.1134/S106373972360070X |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| DDC-Notation | 621.3822 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Russian microelectronics (Bd. 52, 21.3.2024, Nr. 1, date:12.2023: S332-S336) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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