Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "{{{1}}}"
Treffer 99786 von 269855
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1057936375 |
| Titel | Current Voltage Characteristics through Grains and Grain Boundaries of High‐k Dielectric Thin Films Measured by Tunneling Atomic Force Microscopy / Katsuhisa Murakami ; Mathias Rommel ; Vasil Yanev ; Anton J. Bauer ; Lothar Frey |
| Person(en) |
Murakami, Katsuhisa (Mitwirkender) Rommel, Mathias (Mitwirkender) Yanev, Vasil (Mitwirkender) Bauer, Anton J. (Mitwirkender) Frey, Lothar (Mitwirkender) |
| Verlag | Erlangen : Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus-38057 |
| URL | http://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/2621 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen |
In: AIP Conference Proceedings 1395 (2011): S. 134-138. 06.11.2012 |
| Schlagwörter | - |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 99786 von 269855
Administration
