Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1278661417 |
| Titel | Lifetime estimation of IGBT module using square-wave loss discretization and power cycling test / by Jie Wang, Da-Qing Gao, Wan-Zeng Shen, Hong-Bin Yan |
| Person(en) |
Wang, Jie (Verfasser) Gao, Da-Qing (Verfasser) Shen, Wan-Zeng (Verfasser) Yan, Hong-Bin (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023011921513578038295 DOI: 10.1007/s41365-022-01118-7 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s41365-022-01118-7 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| DDC-Notation | 621.317 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Nuclear science and techniques (Bd. 33, 15.10.2022, Nr. 10, date:10.2022: 1-13) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

