Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: cod="ra"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1318513618 |
| Titel | Active Probe Atomic Force Microscopy : A Practical Guide on Precision Instrumentation / by Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi |
| Person(en) |
Xia, Fangzhou (Verfasser) Rangelow, Ivo W. (Verfasser) Youcef-Toumi, Kamal (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Ausgabe | 1st ed. 2024 |
| Verlag | Cham : Springer International Publishing, Imprint: Springer |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, XXIV, 366 p. 138 illus., 125 illus. in color. : online resource. |
| Andere Ausgabe(n) |
Printed edition:: ISBN: 978-3-031-44232-2 Printed edition:: ISBN: 978-3-031-44234-6 Printed edition:: ISBN: 978-3-031-44235-3 |
| Inhalt | Introduction -- Active Probe Design and Fabrication -- Advanced Applications of Active Probes -- Atomic Force Microscope Designs -- AFM System using Active Probe -- A Low-cost AFM Design for Engineering Education -- Appendix |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2024020703082010780048 DOI: 10.1007/978-3-031-44233-9 |
| URL | https://doi.org/10.1007/978-3-031-44233-9 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-031-44233-9 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| DDC-Notation | 502.82 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

