Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Treffer 99874 von 1006471
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1272585298 |
| Titel | Advances in machine learning and deep learning applications towards wafer map defect recognition and classification: a review / by Tongwha Kim, Kamran Behdinan |
| Person(en) |
Kim, Tongwha (Verfasser) Behdinan, Kamran (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022111121040508740871 DOI: 10.1007/s10845-022-01994-1 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10845-022-01994-1 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| DDC-Notation | 005.14 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of intelligent manufacturing (23.8.2022: 1-33) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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