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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1364210525 |
| Titel | Predictive Analysis of Microcircuits’ Radiation Hardness in the Fabrication Process. II. Selection of Test Objects and the Statistical Processing of the Obtained Results / by Yu. M. Moskovskaya, D. V. Boychenko |
| Person(en) |
Moskovskaya, Yu. M. (Verfasser) Boychenko, D. V. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2504302114591.236035105076 DOI: 10.1134/S1063739724700847 |
| URL | https://doi.org/10.1134/S1063739724700847 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| DDC-Notation | 621 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Russian microelectronics (Bd. 53, 10.2.2025, Nr. 7, date:12.2024: 696-703) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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