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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Parametric reliability of 6T-SRAM core cell arrays / Stefan Drapatz
Person(en) Drapatz, Stefan (Verfasser)
Verlag Aachen : Shaker
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2012
Umfang/Format V, 160 S. : graph. Darst. ; 21 cm, 254 g
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Parametric Reliability of 6T-SRAM Core Cell Arrays
Hochschulschrift Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2012
ISBN/Einband/Preis 978-3-8440-1009-1 kart. : EUR 48.80 (DE), EUR 48.80 (AT), sfr 61.00 (freier Pr.)
EAN 9783844010091
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Selected topics of electronics and micromechatronics ; Vol. 43
Schlagwörter Statisches RAM ; Speicherzelle ; MOS-FET ; Degradation <Technik> ; Zuverlässigkeit ; Flip-Flop ; CMOS ; Nanometerbereich
DDC-Notation 621.39732 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2012 A 46609
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2012 A 65834
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Leipzig




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