Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1386856428 |
| Titel | Prüfen elektronischer Baugruppen |
| Person(en) |
Tiebe, Jürgen (Verfasser) Scheurer, Beat (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2601160823013.635012280775 DOI: 10.1524/teme.1996.63.jg.352 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 12.1996 |
| DDC-Notation | 621 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | Enthalten in: Technisches Messen (Bd. 63, 1996, Nr. JG: 352-355) |
| Schlagwörter | Elektronische Baugruppe* ; Prüfung* ; Boundary scan* (*maschinell ermittelt) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

