Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: nid=241741-8
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/241741-8 |
| Veranstaltung | Internationale Tagung Programmiertes Messen und Prüfen in der Elektronik-Fertigung |
| Typ | Veranstaltungsfolge (vif) |

