Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations.
 
Neuigkeiten Vom 10. September 2025, 13 Uhr, bis 11. September 2025, 22 Uhr, kann es zu Einschränkungen bei der Bereitstellung von Medienwerken kommen. Wir informieren Sie per E-Mail über den aktuellen Stand Ihrer Bestellungen. // From 13:00 on 10 September 2025 until 22:00 on 11 September 2025, there may be restrictions on the provision of media works. We will inform you by email about the current status of your orders.
 
 
 


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Online Ressourcen 16711 Methoden zur Dynamikerweiterung in der zweidimensionalen CMOS-Bildsensorik
Schrey, Olaf, 2001
Online Ressource
Bücher 16712 Modellbasierte Steuerung und Regelung eines Erdgasmotors
Dyntar, David. - Zürich : [IMRT Press], 2001
Vorhanden in Leipzig
Bücher 16713 Modellbildung an Asynchronmaschinen
Rauchfuß, Lutz. - Berlin : Heide, 2001
Vorhanden in Leipzig Vorhanden in Frankfurt
Bücher 16714 MOVPE of GaSb based materials and solar cell structures
Agert, Carsten, 2001
Vorhanden in Leipzig Vorhanden in Frankfurt
Bücher 16715 Optische Raumüberwachung
Santos Conde, José Emilio. - Stuttgart : Fraunhofer-IRB-Verl., 2001
Vorhanden in Leipzig Vorhanden in Frankfurt
Online Ressourcen 16716 Optische Raumüberwachung
Santos Conde, José Emilio, 2001
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Bücher 16717 Rechenmodellentwicklung für die Analyse von Reaktivitätstransienten mit Neutronentransporttheorie und gekoppelter Thermofluiddynamik für Hochfluss-Forschungsreaktoren
Pautz, Andreas, 2001
Vorhanden in Leipzig Vorhanden in Frankfurt
Online Ressourcen 16718 Rechenmodellentwicklung für die Analyse von Reaktivitätstransienten mit Neutronentransporttheorie und gekoppelter Thermofluiddynamik für Hochfluss-Forschungsreaktoren
Pautz, Andreas, 2001
Online Ressource
Bücher 16719 Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
Weiler, Dirk, 2001
Vorhanden in Leipzig Vorhanden in Frankfurt
Online Ressourcen 16720 Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
Weiler, Dirk, 2001
Online Ressource


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