Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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	181	A new model-based creep equation for dispersion strengthened materials Rösler, Joachim. - Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008
	182	A simple model for stress voiding in passivated thin film conductors Lloyd, J. R.. - Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008
	183	Analysis and modelling of the creep-fatigue behaviour of oxide dispersion strengthened superalloys Elzey, D. M.. - Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008
	184	Creep in dispersion strengthened aluminium alloys at high temperature Rösler, Joachim. - Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008
	185	Detailed study of electromigration induced damage in Al and AlCuSi interconnects Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008
	186	Dispersion strengthening of Al films by oxygen ion implantation Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008
	187	Effects of order on dispersion strengthening at high temperatures Arzt, Eduard. - Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008
	188	Electromigration failure by shape change of voids in bamboo lines Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008
	189	Electromigration induced resistance changes in passivated aluminum thin film conductors Möckl, U. E.. - Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008
	190	Electromigration resistance and mechanical strength: new perspectives for interconnect materials? Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2008