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4021 |
Charakterisierung silylterminierter Siliziumdioxidoberflächen mit thermischer Desorptionsspektroskopie und oberflächensensitiven Analysenmethoden Schmohl, Andreas, 2004
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ECWR plasma parameter characterisation and tuning for applications to thin film deposition (indium oxide) Vartolomei, Vasile, 2004
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Electrical properties of iron-doped silicon at different stages of precipitation Khalil, Reda Mahsoop El Naby Mohamed Baiomy, 2004
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Electronic structure calculations with dynamical mean field theory Held, Karsten, 2004
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Elektrische und strukturelle Eigenschaften dünner Perowskitfilme für Anwendungen in der Mikroelektronik Schmid, Martin, 2004
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Elektrische und strukturelle Eigenschaften dünner Perowskitfilme für Anwendungen in der Mikroelektronik Schmid, Martin, 2004
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Elemental resolved magnetism of gadoliniumnitride layers and GdN-Fe multilayers Leuenberger, Frank, 2004
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Herstellung und elektronische Eigenschaften hydrogenierter amorpher Siliziumfilme, abgeschieden unter extremen Depositionsbedingungen Will, Stephan, [2004]
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Herstellung von spannungsoptimierten Silizium-Membranen durch den elektrochemischen Ätzstopp an pn-Übergängen Soßna, Eva, [2004]
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High-resolution investigation of the electronic structure of organic thin films Schöll, Achim, 2004
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