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6511 |
Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
Weiler, Dirk, 2001
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6512 |
Untersuchung und Entwicklung von Stromsensorkonzepten für Leistungsbauelemente mit lateralem und vertikalem Stromfluß
Wrana, Michael, 2001
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6513 |
Untersuchung von Technologien für Farbfilter und Mikrolinsen zur monolithischen Integration in CMOS-Fotosensorarrays
Schicketanz, Peter, 2001
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6514 |
Untersuchungen zu einem hochauflösenden Flächenlichtmodulator mit einstellbarem Profil einer Flüssigkeitsoberfläche zur optischen Musterwiedergabe
Wolter, Alexander, 2001
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6515 |
Verhalten unterschiedlicher Kontaktsysteme in Vakuumleistungsschaltern bei hohen Schaltleistungen
Steinke, Kathrin. - Göttingen : Sierke, 2001, 1. Aufl.
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6516 |
Bedarfsgesteuerte Bildübertragung mit Regions of Interest und Levels of Detail für mobile Umgebungen
Rauschenbach, Uwe, 2000
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Laseroptische Messtechnik
Schaller, Johannes K., 2000
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6518 |
The aluminium-induced layer exchange forming polycrystalline silicon on glass for thin-film solar cells
Nast, Oliver, 2000
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6519 |
Complexity of certificates, heuristics, and counting types, with applications to cryptography and circuit theory
Rothe, Jörg, 1999
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6520 |
Integration und Optimierung optoelektronischer Sensoren in Standard-CMOS-Prozessen
Martiny, Ingo. - Düsseldorf : VDI-Verl., 1999, Als Ms. gedr.
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