|
811 |
A landmark based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes
Ritter, Martin, 2007
|
|
|
|
812 |
A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes
Ritter, Martin. - Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2007
|
|
|
|
813 |
An den Grenzen des Wissens
Zürich : vdf Hochschulverlag, 2007
|
|
|
|
814 |
Analysis and visualization in multidimensional microscopy
Wawrowsky, Kolja Alexander, 2007
|
|
|
|
815 |
Applied Scanning Probe Methods V
Cham : Springer Nature Switzerland, 2007
|
|
|
|
816 |
Applied Scanning Probe Methods VI
Cham : Springer Nature Switzerland, 2007
|
|
|
|
817 |
Applied Scanning Probe Methods VII
Cham : Springer Nature Switzerland, 2007
|
|
|
|
818 |
Aufbau und Kalibrierung eines Raster-LEED-Mikroskops
Hoyer, Jörn, 2007
|
|
|
|
819 |
Auflösungsvermögen und Genauigkeit der Kelvinsonden-Rasterkraftmikroskopie und deren Anwendung an molekularen Systemen
Zerweck-Trogisch, Ulrich, 2007
|
|
|
|
820 |
Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Au/Si und Au/Pr2O3/Si-Strukturen
Mauch, Irene, 2007
|
|
Administration
