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13471 |
Entwicklung und Anwendung eines neuartigen Analysenverfahrens zur Bestimmung von Quecksilber(II) mit Hilfe der FI-CVAAS Bohla, Andreas, 2002
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13472 |
Interface characterization of metal-gate MOS-structures and the application to DRAM-capacitors Sell, Bernhard, 2002
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Ionenassistierte Magnetron-Sputterdeposition von kristallinen Siliziumschichten für Dünnschichtsolarzellen Reinig, Peter, 2002
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MOVPE of GaSb-based materials and solar cell structures Agert, Carsten, [2002]
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Probenahme und chemische Analytik von korngrößenfraktionierten Immissions- und Emissionsaerosolen John, Astrid Christiane, 2002
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Routing and dimensioning in satellite networks with dynamic topology Werner, Markus, 2002
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Schnellbewertung der Erdbebengefährdung von Gebäuden Sadegh-Azar, Hamid, 2002
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Seismisch belastete Schüttgutsilos Wagner, Jörg Rocco, 2002
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Systeme für organische Leuchtdioden Unterlechner, Christoph, [2002]
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The aluminium-induced layer exchange forming polycrystalline silicon on glass for thin-film solar cells Nast, Oliver, [2002]
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