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Scaling effects on microstructure and reliability for Cu interconnects
Enthalten in International journal of materials research Bd. 101, 2010, Nr. 2: 216-227. 12 S.
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Zu Fuss an Seen und Flüssen
Pfäffikon/SZ : Fink Medien, 2010, 1. Aufl.
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Verschlüsselung textbasierter Kommunikation auf Android Endgeräten
Schüring, Markus. - Hamburg : Hochschule für Angewandte Wissenschaften Hamburg, 2010
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Untersuchung der Vertraulichkeit nach Obfuskierung durch Fountain Codes
Perrey, Heiner. - Hamburg : Hochschule für Angewandte Wissenschaften Hamburg, 2010
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Transport von Teilchen in asymmetrisch modulierten Poren
Mathwig, Klaus. - Halle, Saale : Universitäts- und Landesbibliothek Sachsen-Anhalt, 2010
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Murder in the Night Mord bei Nacht
Hooper, Martin. - München : Langenscheidt, 2010
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Murder in the Night Mord bei Nacht
Hooper, Martin. - München : Langenscheidt, 2010
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Konzepte zur externen Bereitstellung von Informa-tionen aus einem Archivsystem – eine Untersuchung am Beispiel einer Berufsgenossenschaft
Wasiee, Abdul Waheed. - Hamburg : Hochschule für Angewandte Wissenschaften Hamburg, 2010
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[Klein] Flötentöne
Klein, Thomas Martin. - Rellingen : Yamaha, 2010-[2019]
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Flötentöne / Band 2
2010, Lehrerhandbuch
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