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19091 |
Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
Weiler, Dirk, 2001
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19092 |
Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
Weiler, Dirk, 2001
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19093 |
She pin shi bie (RFID) ji shu
Finkenzeller, Klaus. - Bei jing : Dian zi gong ye chu ban she, 2001
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19094 |
Trend report / Center for Digital Technology & Management
Center for Digital Technology and Management. - München : CDTM, 2001
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19095 |
Untersuchung und Entwicklung von Stromsensorkonzepten für Leistungsbauelemente mit lateralem und vertikalem Stromfluß
Wrana, Michael, 2001
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19096 |
Untersuchung von Technologien für Farbfilter und Mikrolinsen zur monolithischen Integration in CMOS-Fotosensorarrays
Schicketanz, Peter, 2001
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19097 |
Untersuchung von Technologien für Farbfilter und Mikrolinsen zur monolithischen Integration in CMOS-Fotosensorarrays
Schicketanz, Peter, 2001
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19098 |
Untersuchungen zu einem hochauflösenden Flächenlichtmodulator mit einstellbarem Profil einer Flüssigkeitsoberfläche zur optischen Musterwiedergabe
Wolter, Alexander, 2001
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19099 |
Untersuchungen zu einem hochauflösenden Flächenlichtmodulator mit einstellbarem Profil einer Flüssigkeitsoberfläche zur optischen Musterwiedergabe
Wolter, Alexander, 2001
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19100 |
Verhalten unterschiedlicher Kontaktsysteme in Vakuumleistungsschaltern bei hohen Schaltleistungen
Steinke, Kathrin. - Göttingen : Sierke, 2001, 1. Aufl.
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Administration
