Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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191 - 200 von 249

	191	Nanoscale imaging of mechanical properties of polymeric materials using nanotomography and scanning force microscopy based methods Dietz, Christian, 2008
	192	Nanotechnology Stuttgart : Landesstiftung Baden-Württemberg, 2008
	193	Nanotribological surface characterization by frequency modulated torsional resonance mode AFM Yurtsever, Ayhan, 2008
	194	Precision measurements with SMI and 4Pi Microscopy Baddeley, David, [2008]
	195	Registration and quantitative image analysis of SPM data Rehse, Sabine, 2008
	196	Untersuchung zur Realisierung selbstgesteuerten Lernens im naturwissenschaftlichen Unterricht Neumann, Anja. - Kiel : Universitätsbibliothek Kiel, 2008
	197	Untersuchungen von polymeren Netzwerken mit Methoden der Rasterkraftmikroskopie Schmatulla, Alexander Karl, 2008
	198	4Pi-Mikroskopie mit ultra-hohen Aperturwinkeln Lang, Marion Christine, 2007
	199	A landmark based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes Ritter, Martin, 2007
	200	A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes Ritter, Martin. - Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2007