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Scanning ion conductance microscopy Donnermeyer, Achim, 2007
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Scattering scanning near field optical microscopy on anisotropic dielectrics Kehr, Susanne C., 2007
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Schnelle und hochsensitive multifokale Zwei-Photonen-Laser-Raster-Mikroskopie Fricke, Matthias, 2007
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Spitzenverstärkte Ramanspektroskopie und -mikroskopie im Ultrahochvakuum Steidtner, Jens, 2007
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STED microscopy with Q-switched microchip lasers Kellner, Robert R., 2007
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Ultra precise measurement of optical aberrations for Sub-°Angström transmission electron microscopy Barthel, Juri, 2007
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Aufbau eines Tieftemperaturrastertunnelmikroskops und Messungen auf Ni3Al(111) Degen, Stefan, 2006
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Bestimmungsgründe für die Wahl von ingenieur- und naturwissenschaftlichen Studiengängen Mannheim : ZEW, 2006
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Bestimmungsgründe für die Wahl von ingenieur- und naturwissenschaftlichen Studiengängen: Ausgewählte Ergebnisse einer Schwerpunktstudie im Rahmen der Berichterstattung zur technologischen Leistungsfähigkeit Deutschlands Heine, Christoph. - Mannheim : Universitätsbibliothek Mannheim, 2006
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Causation Wilhelmshaven : I. Barukčić
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