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"test"
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Titel (Z-A)
Name (A-Z)
Name (Z-A)
Interne ID-Nr. aufsteigend
Interne ID-Nr. absteigend
21
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (36. : 2024 : Edinburgh)
Veranstaltung (vie)
22
IEEE International Symposium on VLSI Design and Test (28. : 2024 : Vellore)
Veranstaltung (vie)
23
IEEE International Test Conference (2024 : San Diego, Calif.)
Veranstaltung (vie)
24
IEEE International Test Conference in Asia (8. : 2024 : Changsha)
Veranstaltung (vie)
25
IEEE International Test Conference India (8. : 2024 : Bangalore)
Veranstaltung (vie)
26
IEEE Latin-American Test Symposium (25. : 2024 : Maceió)
Veranstaltung (vie)
27
IEEE Microelectronics Design & Test Symposium (33. : 2024 : Albany, NY)
Veranstaltung (vie)
28
IEEE VLSI Test Symposium (42. : 2024 : Tempe, Ariz.)
Veranstaltung (vie)
29
International Symposium on Test Automation & Instrumentation (10. : 2024 : Shenzhen)
Veranstaltung (vie)
30
Symposium on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (26. : 2024 : Dresden)
Veranstaltung (vie)
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