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371 |
Maximizing far-field optical microscopy resolution through selected fluorophore transitions
Rittweger, Eva, 2009
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372 |
Mechanical and electrical measurements on the nanoscale using atomic force microscopy in ambient conditions and liquids
Ebeling, Daniel, 2009
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373 |
Messung als konkrete Handlung
Schlaudt, Oliver. - Würzburg : Königshausen & Neumann, 2009
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374 |
Mit Portfolios evaluieren
Meentzen, Uta. - Kiel : Universitätsbibliothek Kiel, 2009
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375 |
Multiple-view microscopy with light sheet based fluorescence microscope
Kržič, Uroš, 2009
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Multiple-view microscopy with light-sheet based fluorescence microscope
Kržič, Uroš, 2009
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377 |
Schülerlabore als interessefördernde außerschulische Lernumgebungen für Schülerinnen und Schüler aus der Mittel- und Oberstufe
Pawek, Christoph, 2009
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Schülerlabore als interessefördernde außerschulische Lernumgebungen für Schülerinnen und Schüler aus der Mittel- und Oberstufe
Pawek, Christoph. - Kiel : Universitätsbibliothek Kiel, 2009
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Substrate-enhanced scattering-type scanning near-field infrared microscopy of nanoparticles
Cvitković, Antonija. - München : Verl. Dr. Hut, 2009, 1. Aufl.
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380 |
Substrate-Enhanced Scattering-Type Scanning Near-Field Infrared Microscopy of Nanoparticles
Cvitković, Antonija. - München : Verlag Dr. Hut, 2009
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Administration
