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441 |
Ultra precise measurement of optical aberrations for Sub-°Angström transmission electron microscopy
Barthel, Juri. - Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 2008
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442 |
Untersuchung zur Realisierung selbstgesteuerten Lernens im naturwissenschaftlichen Unterricht
Neumann, Anja. - Kiel : Universitätsbibliothek Kiel, 2008
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443 |
Untersuchungen von polymeren Netzwerken mit Methoden der Rasterkraftmikroskopie
Schmatulla, Alexander Karl, 2008
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444 |
Untersuchungen von polymeren Netzwerken mit Methoden der Rasterkraftmikroskopie
Schmatulla, Alexander Karl, 2008
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445 |
Vom Erkennen zum Handeln
Achtner, Wolfgang. - Göttingen : Vandenhoeck & Ruprecht, 2008
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446 |
4Pi-Mikroskopie mit ultra-hohen Aperturwinkeln
Lang, Marion Christine, 2007
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4Pi-Mikroskopie mit ultra-hohen Aperturwinkeln
Lang, Marion Christine, 2007
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448 |
A landmark based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes
Ritter, Martin. - Bremerhaven : Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss., 2007
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449 |
A landmark based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes
Ritter, Martin, 2007
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450 |
A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes
Ritter, Martin. - Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2007
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Administration
