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451 |
A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes
Ritter, Martin. - Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2007
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452 |
Analysis and visualization in multidimensional microscopy
Wawrowsky, Kolja Alexander, 2007
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453 |
Analysis and visualization in multidimensional microscopy
Wawrowsky, Kolja Alexander, 2007
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454 |
Analytische Methoden zur hochauflösenden Strukturbestimmung in der Kryo-Elektronen-Mikroskopie
Lüttich, Mario, 2007
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455 |
Ancilla theologiae?
Finkenberg, Frank. - Mönchengladbach : Kühlen, 2007
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456 |
Aufbau eines supraleitenden 3D-Nahfeld-Rastermikroskops für den Mikrowellen- und THz-Bereich
Kaestner, André Philipp. - Göttingen : Sierke, 2007, 1. Aufl.
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457 |
Aufbau und Kalibrierung eines Raster-LEED-Mikroskops
Hoyer, Jörn, 2007
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458 |
Auflösungsvermögen und Genauigkeit der Kelvinsonden-Rasterkraftmikroskopie und deren Anwendung an molekularen Systemen
Zerweck-Trogisch, Ulrich, 2007
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Auflösungsvermögen und Genauigkeit der Kelvinsonden-Rasterkraftmikroskopie und deren Anwendung an molekularen Systemen
Zerweck-Trogisch, Ulrich, 2007
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460 |
Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Au/Si und Au/Pr2O3/Si-Strukturen
Mauch, Irene, 2007
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Administration
