Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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	811	A landmark based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes Ritter, Martin, 2007
	812	A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes Ritter, Martin. - Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2007
	813	An den Grenzen des Wissens Zürich : vdf Hochschulverlag, 2007
	814	Analysis and visualization in multidimensional microscopy Wawrowsky, Kolja Alexander, 2007
	815	Applied Scanning Probe Methods V Cham : Springer Nature Switzerland, 2007
	816	Applied Scanning Probe Methods VI Cham : Springer Nature Switzerland, 2007
	817	Applied Scanning Probe Methods VII Cham : Springer Nature Switzerland, 2007
	818	Aufbau und Kalibrierung eines Raster-LEED-Mikroskops Hoyer, Jörn, 2007
	819	Auflösungsvermögen und Genauigkeit der Kelvinsonden-Rasterkraftmikroskopie und deren Anwendung an molekularen Systemen Zerweck-Trogisch, Ulrich, 2007
	820	Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Au/Si und Au/Pr2O3/Si-Strukturen Mauch, Irene, 2007